泰思肯MIRA通用分析型高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,配置有高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)赥ESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現了 SEM 成像和實(shí)時(shí)元素分析。這種結合大大簡(jiǎn)化了從樣品中獲取形貌和元素數據的過(guò)程,從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實(shí)驗室常規材料檢測的有效分析解決方案。《查看更多》